FASMEI智能清潔度分析系統——高景深，高精度，快速，穩定
系統描述
FASMEI 910新一代智能清潔度顆粒分析系統，全新分析模式，重新定義清潔度顆粒分析；
采用國際一流硬件配置，檢測速度實現革命性飛躍；
一次掃描技術，檢測效率提高一倍；
掃描時間<3min；
分析過程全自動化；
一鍵分析金屬非金屬纖維顆粒；
自動偏振光，自動倍率識別；
軟件采用智能算法，圖像拼接更優越，顆粒識別更準確；
嚴格執行ISO16232/VDA19.1等國際清潔度分析標準；
本系統最大還原顆粒污染物原色彩及顆粒數據測量準確性；
軟件性能優越，簡單易用，免費升級；
分析結果MAP圖儲存,數據保存指定根目錄，可任意調用及從新分析；
SQL數據庫統計，可任意調用歷史數據（最大金屬顆粒，顆粒數量等），并以趨勢圖表述，為產品工藝改進提供數據支撐。
性能特點
高景深光學主機
18：1超大變倍比
檢測顆粒≥5um
自動光源
自動偏振光
倍率自動設別
分析過程全自動化
一鍵掃描分析設別金屬、非金屬、纖維顆粒
MAP全圖預覽
任意顆粒瀏覽
具備SQL分析統計數據庫
18：1超大變倍比
檢測顆粒≥5um
自動光源
自動偏振光
倍率自動設別
分析過程全自動化
一鍵掃描分析設別金屬、非金屬、纖維顆粒
MAP全圖預覽
任意顆粒瀏覽
具備SQL分析統計數據庫
軟件介紹
中英文操作界面
自動掃描，無縫拼圖技術
一鍵掃描分析，一鍵出報告
內置ISO16232/VDA19/CATL/ISO4406清潔度檢測標準
用戶可自定義分析標準
軟件支持現行多種標準進行分析
自動檢測分辨出微粒類型（金屬、非金屬、纖維）
評價參數（長度、寬度、面積、纖維最大長度）
按照標準ISO 16232 /VDA19計算工件清潔度代碼(CCC)
有效微粒處理（例如重疊微粒）,掃描結果可手動修改
可切分或關聯任意形狀的顆粒
可實現每個顆粒定位回看
自動掃描，無縫拼圖技術
一鍵掃描分析，一鍵出報告
內置ISO16232/VDA19/CATL/ISO4406清潔度檢測標準
用戶可自定義分析標準
軟件支持現行多種標準進行分析
自動檢測分辨出微粒類型（金屬、非金屬、纖維）
評價參數（長度、寬度、面積、纖維最大長度）
按照標準ISO 16232 /VDA19計算工件清潔度代碼(CCC)
有效微粒處理（例如重疊微粒）,掃描結果可手動修改
可切分或關聯任意形狀的顆粒
可實現每個顆粒定位回看
技術參數
檢測顆粒≥5um
RSD≤2%
Particle calibration≤2pixle
18：1超大變倍比光學主機
長景深復消色差系統
掃描時間<3min
高還原性彩色相機，SONY芯片
超高精度全自動掃描臺 自動偏振LED光源
自校顆粒標準塊
一鍵掃描分析設別金屬、非金屬、纖維顆粒
分析結果MAP圖儲存,數據保存指定根目錄，可任意調用及重新分析
配置濾膜夾專用托架，兼容標準濾膜夾及濾膜載物片
軟件智能算法，實現真正意義上圖像無縫拼接
可選配掃碼槍及MES系統
可升級四工位掃描
RSD≤2%
Particle calibration≤2pixle
18：1超大變倍比光學主機
長景深復消色差系統
掃描時間<3min
高還原性彩色相機，SONY芯片
超高精度全自動掃描臺 自動偏振LED光源
自校顆粒標準塊
一鍵掃描分析設別金屬、非金屬、纖維顆粒
分析結果MAP圖儲存,數據保存指定根目錄，可任意調用及重新分析
配置濾膜夾專用托架，兼容標準濾膜夾及濾膜載物片
軟件智能算法，實現真正意義上圖像無縫拼接
可選配掃碼槍及MES系統
可升級四工位掃描
配件
濾膜載物片：50/47mm濾膜通用，可永久保存測試濾膜
測試濾膜：0.45um/0.8um/5um/10um/20um/40um/100um
落塵測試膜：實驗室，車間落塵測試用
落塵測試架：SUS304
儀器防塵箱
測試濾膜：0.45um/0.8um/5um/10um/20um/40um/100um
落塵測試膜：實驗室，車間落塵測試用
落塵測試架：SUS304
儀器防塵箱