CLEANLINESS ANALYSIS OVERVIEW
清潔度分析概述

> 光學分析目前已成為清潔度行業標準分析，具備經濟、快速檢測，易操作特點；
> VDA19標準分析顆粒為50um以上，這已經不能滿足行業發展需求；
> 光學分析可檢測出顆粒類型，分類，區間數量，最大顆粒等信息；
> 光學分析可檢測出污染物顆粒長度、寬度、面積、內切圓、高度等尺寸信息；
> 金屬顆粒識別準確率可體現一臺分析系統的優越性能；

PARTICLE TYPE
顆粒類型

> 金屬顆粒：通常是最關注的，并且是最關鍵的顆粒。
> 非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關鍵性污染物顆粒。
> 纖維：這些顆粒在測試的準備和操作過程中是無法避免的。因此，即使有時候纖維是濾膜上最大的顆粒，其關注度也是相對不高。
> 但是纖維過大對某些零部件失效也會存在風險。
顆粒區間分類及標準等級【VDA19/ISO16232】


表1：

Size Class Size x [um]
B 5≤ X <15
C 15≤ X <25
D 25≤ X <50
E 50≤ X <100
F 100≤ X <150
G 150≤ X <200
H 200≤ X <400
I 400≤ X <600
J 600≤ X <1000
K 1000≤ X

表2：

Number of particles per 1000 cm2 or per 100 cm3 Cleanliness level
More than Up to and including
0 0 00
0 1 0
1 2 1
2 4 2
4 8 3
8 16 4
16 32 5
32 64 6
64 130 7
130 250 8
250 500 9
500 1x103 10
1x103 2x103 11
2x103 4x103 12
4x103 8x103 13
8x103 16x103 14
16x103 32x103 15
32x103 64x103 16
64x103 130x103 17
130x103 250x103 18
250x103 500x103 19
500x103 1x103 20
1x103 2x103 21
2x103 4x103 22
4x103 8x103 23
8x103 16x103 24

表 1. 標準 ISO 16232:2007 第 10 部分中的顆粒尺寸等級。 表 2. 標準 ISO 16232:2007 第 10 部分中的顆粒清潔度等級。

ANALYSIS PRINCIPLE
分析原理

對47/50mm標準濾膜逐行掃描，無縫拼接,拼接后對整張濾膜進行顆粒分析，并進行顆粒分類排序。


> 整個亮度區域按照灰度值等級由黑至白劃分。針對顆粒分析共創建了 0-255灰度等級；
> 圖像處理軟件通過閾值確定哪些區域屬于顆粒,哪些屬于濾膜背景（二次閾值）；
> 采用顯微鏡進行光學顆粒分析時,僅可對小于二值閾值的顆粒結構進行數據采集(相比濾膜背景的顏色更深)。


采用十字排列偏振鏡的顯微鏡的設置
采用偏振鏡的光學顯微鏡的圖像亮度與二值閾值的設置

非金屬-金屬識別原理

顆粒類型 平行偏振光模式下【明場狀態】 十字交叉偏振光下【偏振光狀態】
A:金屬顆粒
B：非金屬顆粒
金屬顆粒在兩種照明模式下：
明場【采用平行偏振鏡】：金屬中自由移動的電子產生反射光，金屬顆粒呈明亮色
偏振光【采用交叉排列的偏振鏡】：抑制偏振光反射，金屬顆粒呈暗黑色
非金屬、玻璃、纖維、塑料、磨料等材料無此特性。
對比兩張圖像（兩個偏振鏡在平行和十字交叉狀態下的對比）
偏振光是金屬-非金屬識別的關鍵，偏振光鏡片鍍膜工藝直接影響顆粒檢測準確性
兩張圖像ID位置必須相同，否則會存在金屬顆粒誤判漏判情況
FASMEI CLEANLINESS MEASUREMENT SYSTEM ANALYSIS PROCESS
FASMEI清潔度測量系統分析過程

> FASMEI清潔度測量分析過程極為簡便，操作者無經驗也可在半小時內輕松掌握操作過程。
> FASMEI清潔度測量系統設從計開發之初，就要求操作過程必須簡便，自動化，準確性，數據化，標準化。
> FASMEI系列測量系統無需手動調節光源，偏振光，全程自動掃描分析。
> 數據庫保證可追溯性，MSA系統數據庫。



EXPANDED ANALYSIS
拓展分析

顆粒高度測量

在某些高要求零部件中，如流體液壓部件，僅測量顆粒長度寬度是不夠的，往往還需要測量顆粒高度信息。測量方法如下


顆粒屬性

如VDA-19標準中描述的擴展式顆粒分析技術。用SEM-EDX的自動掃描電子顯微鏡廣泛用于世界各地的清潔度實驗室。